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半导体静电放电发生器ESD-606G/半导体器件静电测试仪图1

半导体静电放电发生器ESD-606G/半导体器件静电测试仪

2015-01-30 08:5111530已售
价格 1.00
发货 付款后3天内  
品牌 3ctest
型号 ESD-606G
规格 MIL-STD-883E、 METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA
库存 100起订1台  
产品详情
产品介绍
静电放电发生器专门为IC、LED等半导体器件的抗静电测试而设计,仪器集成人体放电模式(HBM)和机械放电模式(MM)通过更换阻容模块来实现两种测试功能。
标准
MIL-STD-883E、 METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA、EIAJED-4701ConditionB、GJB-548A-3015、SJ/T11394、SJ/T11399
优点
  1. 1.超大液晶显示,智能控制高压输出,体积小,重量轻,操作方便;
  2. 2.内置温湿度传感器,及时记录现场试验环境;
  3. 3.电子式高压电源,电压稳定精度高;
  4. 4.内置单片机控制,稳定可靠,操作方便;
  5. 5.主开关采用美国原装进口;
  6. 6.正负极性自动切换;
  7. 7.RS-232接口,PC控制操作
参数
型号
ESD-606G
项目
MIL-STD-883E
METHOD3015.7 IEC747-1
EIAJED-4701 ConditionA
输出电压
0—8KV±5%
输出电压极性
正/负
放电电容
人体模式:100pF  
机械模式:200pF 
放电电阻
人体模式:1.5kΩ
机械模式:0 Ω
工作形式
放电时间间隔在0.1~99.9s之间,
操作方式自由切换
单次放电,连续放电,手动操作,自动放电
放电次数设定
1~9999
放电间隔
0.1~9.9s
工作电源
AC220V±10%,50Hz
环境温度
15-35
外形尺寸
466×356×186mm
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